B. Mot, Longval, Y., Ade, P., André, Y., Aumont, J., Baustista, L., Bernard, J. - P., Bray, N., de Bernardis, P., Boulade, O., Bousquet, F., Bouzit, M., Buttice, V., Caillat, A., Charra, M., Chaigneau, M., Coudournac, C., Crane, B., Crussaire, J. - P., Douchin, F., Doumayrou, E., Dubois, J. P., Engel, C., Etcheto, P., Gélot, P., Griffin, M., Foenard, G., Grabarnik, S., Hargrave, P., Hughes, A., Laureijs, R., Lepennec, Y., Leriche, B., Maestre, S., Maffei, B., Martignac, J., Marty, C., Marty, W., Masi, S., Mirc, F., Misawa, R., Montel, J., Montier, L., Narbonne, J., Nicot, J. - M., Pajot, F., Parot, G., Pérot, E., Pimentao, J., Pisano, G., Ponthieu, N., Ristorcelli, I., Rodriguez, L., Roudil, G., Salatino, M., Savini, G., Simonella, O., Saccoccio, M., Tapie, P., Tauber, J., Torre, J. - P., Tucker, C., et Versepuech, G.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 10562. p. 105624C, 2017.
