N. Galitzki, Ali, A., Arnold, K. S., Ashton, P. C., Austermann, J. E., Baccigalupi, C., Baildon, T., Barron, D., Beall, J. A., Beckman, S., Bruno, S. M. M., Bryan, S., Calisse, P. G., Chesmore, G. E., Chinone, Y., Choi, S. K., Coppi, G., Crowley, K. D., Crowley, K. T., Cukierman, A., Devlin, M. J., Dicker, S., Dober, B., Duff, S. M., Dunkley, J., Fabbian, G., Gallardo, P. A., Gerbino, M., Goeckner-Wald, N., Golec, J. E., Gudmundsson, J. E., Healy, E. E., Henderson, S., Hill, C. A., Hilton, G. C., Ho, S. - P. P., Howe, L. A., Hubmayr, J., Jeong, O., Keating, B., Koopman, B. J., Kiuchi, K., Kusaka, A., Lashner, J., Lee, A. T., Li, Y., Limon, M., Lungu, M., Matsuda, F., Mauskopf, P. D., May, A. J., McCallum, N., McMahon, J., Nati, F., Niemack, M. D., Orlowski-Scherer, J. L., Parshley, S. C., Piccirillo, L., M. Rao, S., Raum, C., Salatino, M., Seibert, J. S., Sierra, C., Silva-Feaver, M., Simon, S. M., Staggs, S. T., Stevens, J. R., Suzuki, A., Teply, G., Thornton, R., Tsai, C., Ullom, J. N., Vavagiakis, E. M., Vissers, M. R., Westbrook, B., Wollack, E. J., Xu, Z., et Zhu, N.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 10708. p. 1070804, 2018.
